[发明专利]一种纳米材料燃点测量方法及测量系统有效

专利信息
申请号: 202010471013.2 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111693561B 公开(公告)日: 2023-02-10
发明(设计)人: 刘翩;郑玉祥;陈良尧;张荣君;王松有;李晶;杨月梅 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01N25/12 分类号: G01N25/12;G01N21/25;G01N23/20;G01K7/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统,所述测量方法包括以下步骤:1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ,进而获得两个椭偏参数ψ与Δ;2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱;3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点;4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况,判断所述相变点是否为燃点,从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比,本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。
搜索关键词: 一种 纳米 材料 燃点 测量方法 测量 系统
【主权项】:
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