[发明专利]一种测量非导电材质涂装膜厚度的方法在审
| 申请号： | 202010471238.8 | 申请日： | 2015-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN111412847A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 王寒骁;沈峰 | 申请（专利权）人： | 江苏新思达电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 苏州市小巨人知识产权代理事务所(普通合伙) 32415 | 代理人： | 胡亚兰 |
| 地址： | 215500 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量非导电材质涂装膜厚度的方法，通过连接有高频天线发射头的高周波发生装置标识目标厚度范围内的多阶段涂装膜产品及未涂装的素材产品，确定波形的最低点和膜厚极限值，取空白波形的非波谷任意点，加上膜厚的极限值的波谷点连成直线，作为测定报警线，将涂装后的产品置于天线发射头处进行测试。本发明的方法特别适用于非金属材质表面进行金属化涂装的膜厚测定，对涂装膜本身无破坏性；针对要求特别严格的产品，可以进行100％的膜厚检测，膜厚测量的精度可以达到0.1um的等级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 导电 材质 涂装膜 厚度 方法 | ||
【主权项】：
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