[发明专利]鳍式场效应晶体管(FinFET)器件结构在审

专利信息
申请号: 202010473668.3 申请日: 2015-07-23
公开(公告)号: CN111668217A 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 陈建颖;程潼文;张哲诚;倪俊龙;林志忠;林志翰 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238;H01L21/762
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了鳍式场效应晶体管(FinFET)器件结构以及用于形成FinFET器件结构的方法。FinFET器件结构包括衬底以及在衬底之上延伸的第一鳍结构和第二鳍结构。FinFET器件结构也包括形成在第一鳍结构上的第一晶体管和形成在第二鳍结构上的第二晶体管。FinFET器件结构还包括在第一晶体管和第二晶体管之间的端到端间隙中形成的层间介电(ILD)结构,并且端到端间隙具有在从约20nm至约40nm的范围内的宽度。本发明的实施例还涉及具有可控端到端临界尺寸的鳍式场效应晶体管(FinFET)器件及其形成方法。
搜索关键词: 场效应 晶体管 finfet 器件 结构
【主权项】:
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