[发明专利]基于高光谱成像技术的大麦叶部病害侵染位点可视化方法在审
申请号: | 202010480436.0 | 申请日: | 2020-05-30 |
公开(公告)号: | CN111751292A | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 聂鹏程;瞿芳芳;蔺磊;陈卓怡;张慧 | 申请(专利权)人: | 浙江大学山东工业技术研究院;山东求是农创农业科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 徐关寿 |
地址: | 277000 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了基于高光谱成像技术的大麦叶部病害侵染位点可视化方法,包括如下步骤:(1)采集待测大麦叶片的高光谱图像;(2)对步骤(1)得到的高光谱图像进行光谱解混分析,其中,设定端元数目为3±1,使用VCA提取端元光谱,利用得到的端元光谱进行丰度估计,得到各端元的丰度图,根据丰度图确定大麦叶部受病害侵染的位点。本发明采用高光谱解混分析处理高光谱图像数据可以对早期疾病侵染的位点加以识别,同时可以追踪病变区域随侵染进程发生的改变。 | ||
搜索关键词: | 基于 光谱 成像 技术 大麦 病害 侵染 可视化 方法 | ||
【主权项】:
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