[发明专利]一种避免充-放电效应影响测试结果的样品制备方法有效

专利信息
申请号: 202010482083.8 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN111766258B 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 姜涛;毛艺蒙;刘春江;赵天昊;田军;方明亮 申请(专利权)人: 中国航发北京航空材料研究院
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/20008
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 陈宏林
地址: 100095 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种避免充‑放电效应影响测试结果的样品制备方法,该方法是将制备好的镶嵌试样(8)放置在有机溶液(9)中,将盛装镶嵌试样(8)和有机溶液(9)的器皿(7)放置在超声机中进行超声振动,去除镶嵌试样(8)上用于夹持或包裹待测样品(5)的包裹物(10),取出后,对待测样品(5)的磨抛面进行抛光和酒精冲洗,迅速吹干,得到测试用的待测样品(5)。本发明方法在扫描电镜、电子背散射衍射和能谱仪测试过程中不受夹持/包裹物以及周边镶嵌料的影响,避免因电荷堆积导致“充‑放电效应”影响观察效果的问题,特别是对涂层、渗层、变形层的需要进行表面观察的样品,降噪效果更为明显,简单易行、无二次损伤和附加干扰,获得信息准确真实,数据采集更加方便,确保了实验结果的准确性和实验结论的正确性。
搜索关键词: 一种 避免 放电 效应 影响 测试 结果 样品 制备 方法
【主权项】:
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