[发明专利]平面可控硅器件及其制作方法在审
申请号: | 202010487333.7 | 申请日: | 2020-06-02 |
公开(公告)号: | CN111584617A | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 邵长海;车振华;左建伟;孙传帮;刘向雨;隋伟;李铁男 | 申请(专利权)人: | 吉林华微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L21/332;H01L29/74 |
代理公司: | 成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310 | 代理人: | 唐维虎 |
地址: | 132000 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本申请实施例提供平面可控硅器件及其制作方法,涉及半导体器件制作技术领域。采用环形结终端扩展区替换现有技术中的深阱环,环形结终端扩展区紧贴在第一基区的四周,环形结终端扩展区的结深低于第一基区的结深。环形结终端扩展区可以在第一电极和第三电极施加电压时降低电场,从而也能提高整个平面可控硅器件的耐受电压。环形结终端扩展区在制作时,只需要进行正常的离子(比如硼)注入扩散即可,不需要采用专业的注铝设备,可以降低平面可控硅器件的制作成本。同时,环形结终端扩展区的结深较浅,制作环形结终端扩展区的耗时较短,可以确保平面可控硅器件的制作效率。 | ||
搜索关键词: | 平面 可控硅 器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
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