[发明专利]一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统有效
申请号: | 202010487954.5 | 申请日: | 2020-06-02 |
公开(公告)号: | CN111562022B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 饶长辉;张兰强;饶学军;刘洋毅;孔林;鲍华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00;G02B27/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,包括倾斜镜、变形镜、精跟踪波前传感器、相关夏克‑哈特曼波前传感器以及波前控制器。针对部分强湍流条件下对太阳进行高分辨力成像观测的需求,从探测波长、校正阶次以及自适应光学系统本身结构入手,提升自适应光学系统在极端湍流强度条件下的校正能力,满足城市科普等应用需求。在探测方面,通过使用长波探测,降低强湍流的影响;在系统参数方面,分析校正对象时空特性,增加探测和校正单元,使之与湍流强度相匹配。在控制算法和校正阶次方面,采用模式法控制以提高系统闭环校正稳定性的基础上,基于校正精度要求的分析,进行高阶探测、低阶校正的方法,进一步确保系统稳定闭环工作。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 湍流 校正 太阳 自适应 光学系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010487954.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种桥梁病害快速智能检测方法
- 下一篇:一种纵向开合的笔杆