[发明专利]一种具有化学机械抛光单元的基板减薄设备在审

专利信息
申请号: 202010525802.X 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN111633532A 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 路新春;赵德文;刘远航;万明军;王同庆;郭振宇;许振杰 申请(专利权)人: 华海清科股份有限公司
主分类号: B24B27/00 分类号: B24B27/00;B24B41/00;B24B49/02;B24B49/12;B24B37/30;B24B37/005;B24B53/013;B24B57/02;H01L21/67
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300350 天津市津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 本公开涉及一种具有化学机械抛光单元的基板减薄设备,其包括:实现基板的进出的设备前端模块、对基板进行磨削的磨削模块和抛光模块,抛光模块包括化学机械抛光单元,化学机械抛光单元包括一存片部、一抛光盘、一粘接在抛光盘上的抛光垫、两个吸附基板并带动基板旋转的承载头、一修整抛光垫的修整器以及一向抛光垫表面提供抛光液的供液部。本公开通过将磨削、如超精密磨削和化学机械抛光工艺相结合,提供了一种加工基板的最为经济有效的技术路线,提高了基板的厚度均匀性,利用两个承载头提高了生产效率,可为超高密度的半导体堆叠制程提供技术保障,是半导体高密度封装发展等的重要组成。
搜索关键词: 一种 具有 化学 机械抛光 单元 基板减薄 设备
【主权项】:
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