[发明专利]大口径平面镜的中、低阶面形检测装置、系统及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010529680.1 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN111551129B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 安其昌;刘欣悦;李洪文;唐境 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 薛娇
地址: 130033 吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种大口径平面镜的低阶面形检测装置、大口径平面镜的中阶面形检测装置、大口径平面镜的中低阶面形检测系统、装置、及计算机可读存储介质,其中,低阶面形检测装置和中阶面形检测装置均利用相同的瑞奇‑康芒的光路架构,以微透镜阵列和相机形成类似HASO波前传感器的检测部件检测低阶面形数据,进而获得大口径平面镜的低阶面形,简化了低阶面形检测的难度和成本,而以相机和孔径遮挡板配合中介面形数据,进而个获得大口径平面镜的中阶面形数据,避免中阶面形检测受环境震动的影响并降低检测成本。且本发明中还利用中阶面形检测装置和低阶面形检测装置相结合,实现大口径平面镜中低面形检测。
搜索关键词: 口径 平面镜 低阶 检测 装置 系统 存储 介质
【主权项】:
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