[发明专利]一种晶体硅太阳能电池的检测装置和方法在审
申请号: | 202010541118.0 | 申请日: | 2020-06-15 |
公开(公告)号: | CN111554589A | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 王宝磊;贾凯;王璐;马淑萍;张希 | 申请(专利权)人: | 西安黄河光伏科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 西安亚信智佳知识产权代理事务所(普通合伙) 61241 | 代理人: | 段国刚 |
地址: | 710043 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开实施例是关于一种晶体硅太阳能电池的检测装置和方法。该检测装置将组件封装玻璃、EVA和一片超薄的高透玻璃通过层压固化在一起,形成一块透明的检测组件,待测样品置于检测组件之下,底板之上,通过手柄将待测样品夹在检测装置内,检测组件模拟出样片在组件后的外观和颜色,模拟效果真实可靠。本公开实施例可以快速识别成品电池、镀膜后硅片等在制作成组件后的外观和颜色,以便对电池工艺和检验标准进行及时调整,大幅提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶体 太阳能电池 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造