[发明专利]一种在系统级封装实现选择性电磁屏蔽的工艺在审

专利信息
申请号: 202010542197.7 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN111755424A 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 张少波;方铭国;刘江;程勇 申请(专利权)人: 深圳泰研半导体装备有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;C23C14/04;C23C14/18;C23C14/35;C23C14/58;B23K26/36
代理公司: 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 代理人: 王志强
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种系统级封装实现选择性电磁屏蔽的工艺,其包括以下步骤:S1、获取SIP封装体;S2、在SIP封装体上形成半切割道沟槽;S3、通过低温磁控离子溅射,在SIP封装体外表面及半切割道沟槽镀膜以形成金属覆层,以形成共形屏蔽、区域屏蔽;S4、以激光除去SIP封装体外表面待除去的金属覆层,以裸露出未屏蔽区,形成局部屏蔽采用激光和低温磁控离子溅射工艺,可以同时形成共形屏蔽、区域屏蔽以及局部屏蔽;可以提高工艺流程的简洁化程度。另外,能够解决金属屏蔽层内的子系统共振问题,局部屏蔽则是进一步划分屏蔽区及非屏蔽区,如此可以提高SIP封装技术的应用空间。
搜索关键词: 一种 系统 封装 实现 选择性 电磁 屏蔽 工艺
【主权项】:
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