[发明专利]基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法有效
| 申请号： | 202010550156.2 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN111880023B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 徐洪武;陈凤熹;朱炜;王喜奎;韩天龙;王伟;蔡健平;施帆;伍招冲;张睿;宋汝宁;张晓军 | 申请（专利权）人： | 中国航天标准化研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 高会允 |
| 地址： | 100071*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明公开了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，能够计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期，从而使得验证结果更精确。该方法具体为：获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。对弹上电子装备所有的电子元器件获取激活能和失效率，并按照失效率降序排序并设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能；确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级；选取加速试验模型，结合弹上电子装备的激活能，针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子；结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和，确定试验时间t |
||
| 搜索关键词： | 基于 多级 加速 因子 电子产品 贮存 试验 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天标准化研究所，未经中国航天标准化研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010550156.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
