[发明专利]瓦楞纸厚度检测方法、瓦楞纸生产品质监控系统有效
| 申请号： | 202010559654.3 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN111649681B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 邱祉海;关飞;蔡旭初;陈兆海 | 申请（专利权）人： | 杭州利鹏科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 浙江专橙律师事务所 33313 | 代理人： | 朱孔妙 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市经济技术开发*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及瓦楞纸加工。瓦楞纸厚度检测方法：基于硬件系统，硬件系统包括工作台、前景板、背景板、摄像头、电脑和显示器；先将瓦楞纸样品放置在工作台台面上，摄像头开始采集图像，若图像只包括前景板颜色和背景板颜色，则瓦楞纸样品的厚度低于前景板的高度，该工段检测不合格；若摄像头拍摄到的图像包括前景板颜色、边界线、瓦楞纸样品颜色和背景板颜色，则瓦楞纸样品的厚度高于前景板的高度，该工段检测合格。瓦楞纸生产品质监控系统，采用所述的瓦楞纸厚度检测方法检测瓦楞纸品质。本发明提高了检测结果准确度。提高了检测结果的精确度。提高生产效率。系统可靠程度增加了。设备制造成本低廉。容易维护，降低了维持成本。 | ||
| 搜索关键词： | 瓦楞纸 厚度 检测 方法 生产 品质 监控 系统 | ||
【主权项】：
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