[发明专利]鳍式晶体管结构在审
申请号: | 202010563660.6 | 申请日: | 2020-06-19 |
公开(公告)号: | CN111653623A | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 郑智仁;翁文寅 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201315 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种鳍式晶体管结构,包括:一半导体衬底,所述半导体衬底上形成有栅极结构;侧墙,形成在所述栅极结构两侧;顶部界面层,形成在所述栅极结构顶部;接触刻蚀停止层,设置在所述硅衬底及栅极结构上;应力层,设置在所述接触刻蚀停止层上。本发明用于为器件的沟道区提供拉应力,提高了电子迁移率,从而提升了电子器件的性能。 | ||
搜索关键词: | 晶体管 结构 | ||
【主权项】:
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