[发明专利]折射率传感装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 202010564044.2 申请日: 2020-06-19
公开(公告)号: CN111678892B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 谈宜东;代宗仁 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N21/552 分类号: G01N21/552;G01N21/01
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 魏朋
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种折射率传感装置及测量方法,当所述第一激光光束和所述第二激光光束经过差分移频,回到所述激光器并与所述激光器内的原光场发生干涉,调制所述激光器的输出功率得到调制光束。该过程会存在一个106量级的增益放大,使微弱的回馈信号也能拥有足够的调制深度,依然可用于测量,这便是微片激光器移频光回馈具有高灵敏度的原因。因此便于精确地从调制光束中检测所述第一激光光束的光强或相位和所述第二激光束的光强或相位,而通过所述第一激光光束和所述第二激光光束的光强变化或相位变化可以反应所述待测介质折射率变化,因而可以提高对待测介质折射率变化测量的灵敏度和分辨率。
搜索关键词: 折射率 传感 装置 测量方法
【主权项】:
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