[发明专利]星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统有效
| 申请号： | 202010574625.4 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN112556852B | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 李一楠;杨小娇;党鹏举;宋广南;王佳坤;李浩;吕容川 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J5/90 | 分类号： | G01J5/90 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 程何 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统，属于空间微波遥感技术领域。包括如下步骤：在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。本发明能够对大口径天线反射面辐射效率亮温贡献的进行在轨高精度、实时确定，填补了目前大口径反射面辐射效率贡献亮温高精度确定的空白，是一种实用的星载大口径微波辐射计天线反射面辐射效率亮温贡献亮温确定方法。 | ||
| 搜索关键词： | 星载大 口径 微波 辐射计 反射 面亮温 贡献 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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