[发明专利]一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置及用其测试的方法在审

专利信息
申请号: 202010579297.7 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN111678652A 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 张伟健;夏泓玮;王航 申请(专利权)人: 北京品驰医疗设备有限公司
主分类号: G01M3/06 分类号: G01M3/06;G01M13/005
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 史双元
地址: 102200 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置及用气测试的方法,测试装置包括密封圈配合插入物、外壳、顶盖、气体快插接头;外壳包括上端部和下端部,上端部有一止口,用于放入所述顶盖,下端部有一安装孔,用于安装气体快插接头;气体快插接头用于接入可控气压的外部气源;顶盖上有一通孔,用于将密封圈插入。测试时,密封圈配合插入物插入密封圈中,气体快插接头接入气管,控制压力表充入干燥洁净的空气到一个大气压;将密封气腔头部斜向下45°角没入装有透明液体的大容量的透明容器中,控制密封圈顶部位于液面以下10cm‑15cm,观察密封圈和密封圈配合插入物接缝处是否有气泡生成。本发明能够对密封性能进行测试,具有易装配、易操作等特点。
搜索关键词: 一种 密封圈 密封 性能 检漏 测试 装置 方法
【主权项】:
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