[发明专利]一种垂直沟道SRAM集成电路结构在审

专利信息
申请号: 202010580478.1 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN111668220A 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 廖永波;李平;李垚森;曾祥和;胡兆晞;唐瑞枫;邹佳瑞;林凡;聂瑞宏;彭辰曦;冯珂 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L29/10;H01L29/78
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种垂直沟道SRAM集成电路结构,涉及微电子技术和半导体技术。本发明的SRAM由6个新型MOS管构成,每个MOS管是纵向结构,设置有锗硅材料源极、沟道、轻掺杂漏极以及环形栅。本发明所要解决的关键技术问题是:利用一种新型MOS管设计SRAM基本单元。新型MOS管共栅极,用锗硅做源极,可以省去金属通孔和互联线的面积。轻掺杂漏极可以提高耐压,不再依赖特征尺寸。四面环形栅极增大对沟道的控制能力,减小阻抗。纵向结构通过外延生长,避免了多次光刻,节省了工艺流程和成本。
搜索关键词: 一种 垂直 沟道 sram 集成电路 结构
【主权项】:
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