[发明专利]一种电路老化时序分析方法及系统在审
| 申请号： | 202010583391.X | 申请日： | 2020-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN111737938A | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F30/3312 | 分类号： | G06F30/3312;G06F119/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种电路老化时序分析方法，包括：S1，获取电路中同构路径；S2，对同构路径进行分析，以获得同构路径的工作状态；S3，获得工作状态对延时的影响大小，并根据影响大小对同构路径按预设规则进行排序；S4，对部分同构路径进行时序分析，对另一部分同构路径复用已进行时序分析的时序分析结果。另一方面，本公开还提供了一种电路老化时序分析系统。本公开中的方案根据工作状态对路径延时的影响大小对同构的路径进行排序，根据路径的排序仅对部分路径进行时序分析，对其他未进行时序分析的部分路径复用已进行时序分析的路径的时序分析结果，在确保时序分析精度的基础上提供了集成芯片的时序分析速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 老化 时序 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
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