[发明专利]集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法及装置有效
| 申请号： | 202010587561.1 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN111898333B | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 唐章宏;邹军;王芬;汲亚飞;黄承清 | 申请（专利权）人： | 北京智芯仿真科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/39 | 分类号： | G06F30/39 |
| 代理公司： | 深圳市行一知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44453 | 代理人： | 杨贤 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区信*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法及装置。该方法包括根据超大规模集成电路频域仿真的频率响应的计算需求，在预设频段范围内计算集成电路的谐振频率点及其频率响应，基于谐振频率点将预设频段划分为多个子频段，根据每个子频段的切比雪夫多项式零点获取非均匀频率点，进而计算该非均匀频率点的频率响应，通过插值获得预设频段范围内集成电路的频率响应曲线。本申请可实现提取出满足计算精度要求的数量较少的非均匀频率点，且快速计算出集成电路频域仿真在预设频段内满足精度要求的频率响应曲线，避免难以检测出设计的超大规模集成电路的潜在性能问题。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 频率响应 频率 提取 响应 曲线 计算方法 装置 | ||
【主权项】：
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