[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板以及电子装置在审

专利信息
申请号: 202010591838.8 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN113838938A 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 黄杰;宁策;李正亮;胡合合;贺家煜;姚念琦;曲峰;许晓春 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/34;H01L27/12
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王晓燕;孟祥潮
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板以及电子装置,该薄膜晶体管包括衬底和位于衬底上的有源层,有源层包括层叠设置的多层氧化物,该多层氧化物包括沟道层、过渡层和第一阻挡层,沟道层为多层氧化物中载流子迁移率最大的层,沟道层为结晶氧化物层或者非晶氧化物层,过渡层直接接触沟道层,第一阻挡层为该多层氧化物中的最外层氧化物,第一阻挡层和过渡层都为结晶氧化物层,第一阻挡层和过渡层的结晶化程度都大于沟道层的结晶化程度,第一阻挡层和过渡层的带隙都大于沟道层的带隙。该薄膜晶体管具有高迁移率和高稳定性。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制作方法 阵列 以及 电子 装置
【主权项】:
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