[发明专利]一种M-Z型光强度调制器半波电压的测量方法

摘要

本发明公开了一种M‑Z型光强度调制器半波电压的测量方法，采用光源、光功率计和波形发生器对待测M‑Z型光强度调制器进行测量，先调节直流偏压使待测M‑Z型光强度调制器的输出光功率位于极大值区域；然后在直流偏压的基础上叠加一个峰峰值为0的方波信号，再逐渐增大方波信号的峰峰值使光功率计的显示值减小至极小值，最后根据方波信号当前的峰峰值计算待测M‑Z型光强度调制器的半波电压。本发明在直流偏压上叠加方波做为测试信号，通过对测试方法的创新有效避免了直流漂移的影响，使用光功率计即可准确测量M‑Z型光强度调制器的半波电压，无需采用高精度的示波器，测试系统的成本低，测试精度高。