[发明专利]一种折射率测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010603294.2 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111812061A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 张怡龙;张宇超;王海霞;陈朋;梁荣华 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人: 王利强
地址: 310014 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种折射率测量方法,包括以下步骤:1)全反射光束在不同相位角的图像采集;2)不同偏振态光束信号采集;3)光强信息计算和光斑质心坐标计算数据处理。一种折射率测量系统,所述高度稳定激光光源SLD是光源发生器;840nm单模光纤传用于输光信号;消色差准直透镜对入射光束进行准直;直角棱镜和溶液流道用于放置待测样本;前选/后选偏振器实现对光偏振态的选择;二分之一波片组调整光的相位;CCD模块负责采集光斑信息;计算机用于实现光强信号的光强及质心坐标分析,对比不同溶液得到折射率的变化。本发明利用简单的光路结构和未镀膜的普通光学棱镜进行测量,并通过测量NaCl溶液折射率证明了其可行性。
搜索关键词: 一种 折射率 测量方法 系统
【主权项】:
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