[发明专利]外部补偿电路、阵列基板、检测方法有效
| 申请号： | 202010605271.5 | 申请日： | 2020-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN111899691B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 王糖祥;杨飞;陈燚 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/3233 | 分类号： | G09G3/3233 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 李迎亚;姜春咸 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种外部补偿电路、阵列基板、检测方法，属于像素补偿电路技术领域。本发明的外部补偿电路用于检测像素电路中向显示器件输出的电流，其包括：采样单元和积分单元；采样单元被配置为在第一检测阶段，第一开关、第四开关和第六开关处于导通状态；第二开关、第三开关和第五开关处于关断状态；第一电容感测感测线输出至第一节点的泄漏电流；在第二检测阶段，第一开关、第四开关和第六开关处于关断状态；第二开关、第三开关和第五开关处于导通状态；第一电容感测感测线输出至第一节点的带有泄漏电流的电流信号，并将消除泄漏电流后的电流信号传输至积分单元；积分单元被配置为：在第二检测阶段对消除泄漏电流后的电流信号进行积分后输出。 | ||
| 搜索关键词： | 外部 补偿 电路 阵列 检测 方法 | ||
【主权项】：
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