[发明专利]仪控系统中子系统的拒动率验证方法和装置有效

专利信息
申请号: 202010607873.4 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111766848B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 高玉斌;杜乔瑞;王嫘;石桂连;张亚栋;冀建伟 申请(专利权)人: 北京广利核系统工程有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 李明里
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本说明书提供一种仪控系统中子系统的拒动率验证方法和装置,包括:根据子系统的故障严重度权重和故障概率权重计算对应的子权重和调整系数;根据调整系数和平均分配拒动率计算子系统的调整分配拒动率;在子系统的理论计算拒动率小于调整分配拒动率的情况下,对子系统进行测试试验而获得实际故障次数,以及根据测试试验数量、理论计算拒动率和测试置信度获得计算故障次数;根据实际故障次数和计算故障次数判断子系统的理论计算拒动率是否满足要求。因为调整系数体现了各个子系统的故障严重度权重和故障概率权重的特性,所以采用此系数和平均拒动率相乘得到的调整分配拒动率体现了各个子系统的差异。
搜索关键词: 系统 中子 拒动率 验证 方法 装置
【主权项】:
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