[发明专利]一种探测光电材料微区光电性能的方法在审
| 申请号： | 202010608309.4 | 申请日： | 2020-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN111665373A | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 邹星礼;唐蔚;庞忠亚;李想;汪淑娟;卢明辉;许茜;鲁雄刚 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01Q30/02 | 分类号： | G01Q30/02;G01Q30/20;G01N27/26;G01N27/30 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种探测光电材料微区光电性能的方法，涉及光电化学技术领域。本发明以扫描电化学显微镜装置为基础，通过采用光纤微探针和微电极探针，在光电化学池中通过精确扫描样品微区(包括晶粒和晶界等)，从而获得材料微区光电化学性能。本发明的一种探测光电材料微区光电性能的方法可以测量出材料微区的不同表面微观形貌对应的光电性能差异，以及探测晶界及不同晶粒取向的光电性能分布，解决了传统方法上只能测量材料整体宏观光电性质的局限，对光电转化机制研究和工艺性能改进具有重要的指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测 光电 材料 性能 方法 | ||
【主权项】：
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