[发明专利]应用测试方法和装置、存储介质和电子装置在审
| 申请号： | 202010611312.1 | 申请日： | 2020-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN111782524A | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 薛亚斌 | 申请（专利权）人： | 京东数字科技控股有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人： | 刘晓燕 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种应用测试方法和装置、存储介质和电子装置，其中，该方法包括：确定与待测试应用功能对应的第一业务节点，其中，所述第一业务节点与封装的第一应用功能的第一接口对应，所述第一应用功能用于生成所述待测试应用功能的测试数据；调用与所述第一业务节点对应所述第一接口，生成所述待测试应用功能的第一测试数据；使用所述第一测试数据对所述待测试应用功能进行测试，得到所述待测试应用功能的第一测试结果。本申请解决了相关技术中的应用测试方式存在由于测试准备过程繁琐所导致的测试效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 测试 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】：
暂无信息
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