[发明专利]全空域曲面阵多标校区域联合标校方法有效

专利信息
申请号: 202010615914.4 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111830332B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 曾富华;潘云强;吴述敏 申请(专利权)人: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;H04B17/12;H04B17/21
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出的一种全空域曲面阵多标校区域联合标校方法,用于大型共形曲面相控阵系统全空域标校。本发明通过下述技术方案予以实现:首先将相控阵系统标校区域划分为M层,根据每个标校区域的方位角和俯仰角,计算每个标校区域指向的方向图矢量;判断每个标校区域所包含的阵元;利用飞行器,搭载标校设备依次飞行到每个标校区域的指向向量方向,对该标校区域所包含的所有阵元依次进行标校,得到每个标校区域所包含阵元的标校相位,联合所有标校区域的标校相位,对各标校区域可能存在的相位系统差进行估计和补偿,同时去除重复标校的阵元,从每个标校区域选择部分阵元的标校相位,得到全阵的标校相位。
搜索关键词: 空域 曲面 阵多标 校区 联合 校方
【主权项】:
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