[发明专利]全空域曲面阵多标校区域联合标校方法有效
申请号: | 202010615914.4 | 申请日: | 2020-06-29 |
公开(公告)号: | CN111830332B | 公开(公告)日: | 2022-10-28 |
发明(设计)人: | 曾富华;潘云强;吴述敏 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;H04B17/12;H04B17/21 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出的一种全空域曲面阵多标校区域联合标校方法,用于大型共形曲面相控阵系统全空域标校。本发明通过下述技术方案予以实现:首先将相控阵系统标校区域划分为M层,根据每个标校区域的方位角和俯仰角,计算每个标校区域指向的方向图矢量;判断每个标校区域所包含的阵元;利用飞行器,搭载标校设备依次飞行到每个标校区域的指向向量方向,对该标校区域所包含的所有阵元依次进行标校,得到每个标校区域所包含阵元的标校相位,联合所有标校区域的标校相位,对各标校区域可能存在的相位系统差进行估计和补偿,同时去除重复标校的阵元,从每个标校区域选择部分阵元的标校相位,得到全阵的标校相位。 | ||
搜索关键词: | 空域 曲面 阵多标 校区 联合 校方 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所),未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010615914.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:升压供电方法和电路、音频装置
- 下一篇:一种通信对抗过程建模方法