[发明专利]一种集成电路的扫描测试装置有效
| 申请号： | 202010616543.1 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111766505B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 樊光锋;王金富;邱进超;吴睿振;贠文佳 | 申请（专利权）人： | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 250001 山东省济南市自由贸易试验*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路的扫描测试装置，通过在现有技术中EDT压缩设计的基础上，在系统输入管脚和解压缩模块之间设置第一分时复用模块，在压缩模块和系统输出管脚之间设置第二分时复用模块，在解压缩模块将解压缩得到的测试激励信号同时输入扫描链模块中的各扫描链的基础上，进一步将压缩后的测试激励信号分时段输入不同的测试组中的解压缩模块，在压缩模块将测试响应信号压缩后，再分时段输出压缩后的测试响应信号。通过对扫描链进行分时段测试的方式，进一步对系统输入管脚和系统输出管脚进行复用，减小了所需的压缩比，从而降低了解压缩模块和压缩模块的复杂度，在集成电路规模增大后避免了压缩难度提升，解决了芯片测试管脚不足的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 扫描 测试 装置 | ||
【主权项】：
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