[发明专利]半导体装置和制造半导体装置的方法在审

专利信息
申请号: 202010639066.0 申请日: 2020-07-06
公开(公告)号: CN112201653A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 邱黄俊;李琼延;李泰勇;贝俊明 申请(专利权)人: 安靠科技新加坡控股私人有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L21/98;H01L23/495;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京寰华知识产权代理有限公司 11408 代理人: 何尤玉;郭仁建
地址: 新加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体装置和制造半导体装置的方法。在一个实例中,一种半导体装置包括:衬底和在所述衬底的顶侧上的电子装置;在所述衬底的所述顶侧上的引线框架,其在所述电子装置上方,其中所述引线框架包括连接杆和引线;在所述引线框架的顶侧上的组件,其安装到所述连接杆和所述引线;以及在所述衬底的所述顶侧上的囊封物,其中所述囊封物接触所述电子装置的一侧和所述组件的一侧。本文中还公开其它实例和相关方法。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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