[发明专利]一种快速离子温度和旋转速度的测量方法在审

专利信息
申请号: 202010650448.3 申请日: 2020-07-08
公开(公告)号: CN113923844A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 何小雪;余德良;陈文锦;刘亮;魏彦玲;何小斐 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院
主分类号: H05H1/00 分类号: H05H1/00;G21B1/05
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 刘昕宇
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于测量,具体涉及一种快速离子温度和旋转速度的测量方法。一种快速离子温度和旋转速度的测量方法,包括下述步骤:步骤一:接收光谱;接收等离子体放电光谱;步骤二:衍射分光;对接收到的光信号进行衍射分光;步骤三:光电耦合;光电耦合分为不曝光区域光电耦合和曝光区域光电耦合。本发明的显著效果是:(1)只测量可用于计算离子温度和旋转速度的光谱信号,滤除其他多余的光谱。(2)相比于传统的测量方法,本方法的时间分辨率高;(3)相比于“超快”的测量方法,本方法的光谱分辨率高,通道数多,测量的光信号不需要进行标定,数据易于分析。
搜索关键词: 一种 快速 离子 温度 旋转 速度 测量方法
【主权项】:
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