[发明专利]用于测量有机发光材料的方法、计算设备和计算机存储介质有效
| 申请号： | 202010650983.9 | 申请日： | 2020-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN111812040B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 范灵杰;李政红;卢国鹏;石磊;殷海玮 | 申请（专利权）人： | 上海复享光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 黄倩 |
| 地址： | 200433 上海市杨浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种用于测量有机发光材料的方法、计算设备和计算机存储介质。该方法包括：将待测有机发光材料组件放置在光谱仪的样品台上；使得入射光以预定角度从待测有机材料层远离衬底的一侧照射待测有机材料层；旋转光谱仪的探测装置，以便扫描测量经由棱镜发出的各个角度的光强；以及基于经由扫描测量而获得的非偏振光谱信息与对照非偏振光谱信息之间的比较，确定待测有机发光材料组件中的偶极子分布取向信息，偶极子分布取向信息至少包括偶极子的竖直分布信息和偶极子水平分布信息，对照非偏振光谱信息是经由叠加p偏振光谱信息和s偏振光谱信息而生成的。本公开能够精准衡量有机发光材料的发光特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 有机 发光 材料 方法 计算 设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
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