[发明专利]改良型全质构分析测定面条质构的方法在审
申请号: | 202010651578.9 | 申请日: | 2020-07-08 |
公开(公告)号: | CN112113833A | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 屈良静;余建中 | 申请(专利权)人: | 厦门超技仪器设备有限公司 |
主分类号: | G01N3/06 | 分类号: | G01N3/06;G01N3/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361000 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种测定面条质构的方法,将面条固定于夹具后,以设定的参数对面条进行两次拉伸实验,借由第一次小型变量的拉伸测定面条的非破坏性质构参数包含杨氏模量、抗张力、弹性等;借由第二次的破坏性断裂测试测得面条的波坏性质构参数包含断裂力、延展性等。此方法的特征在于在一次的实验中,可以得到两次测试的数据,并且由一个图形去做运算,不但省去更换样品的时间,更能以同一样品一次成两种实验,避免样品不同导致数据影响。 | ||
搜索关键词: | 改良 型全质构 分析 测定 面条 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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