[发明专利]芯片测试系统、方法、设备及介质在审
| 申请号： | 202010652802.6 | 申请日： | 2020-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN111781490A | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 刘克彬;周晓俊;樊崇斌 | 申请（专利权）人： | 上海励驰半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 曹婷 |
| 地址： | 200000 上海市浦东新区上海自由贸易试*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试系统、方法、设备及介质，涉及芯片测试验证技术领域，解决了芯片测试不能全面覆盖的技术问题，其技术方案要点是该系统包括第一多路选择器、至少一个第三多路选择器、控制器和至少三个验证设备，通过多路选择器的设置，使得被测芯片的测试可重构，且能够100％覆盖各种IO复用功能的测试，提高了芯片测试的效率、实现全天候测试、能够及早发现芯片的问题、缩短芯片开发周期以及提高芯片最终出货的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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