[发明专利]一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010655812.5 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111887888A 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 吴宇鹏;冯巧梅 申请(专利权)人: 聚融医疗科技(杭州)有限公司
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 周希良
地址: 311305 浙江省杭州市临安*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法及系统,其中所涉及的一种基于透镜回波评估超声探头匹配层阻抗的方法,包括步骤:S11.获取脉冲发射器生成的窄脉冲波形,并存储窄脉冲波形;S12.将窄脉冲波形作为发射波形,并获取示波器采集的超声探头表面的通道透镜回波信号,并记录超声探头的匹配层编号以及通道透镜回波峰值;S13.根据记录的通道透镜回波峰值,判断是否需要更改超声探头的匹配层阻抗,若是,则执行步骤S11‑S12;若否,则执行步骤S14;S14.将通道透镜回波峰值所对应的匹配层作为最终的超声探头匹配层。本发明利用超声探头透镜表面与空气因阻抗不匹配产生的透镜回波强度评估探头匹配层阻抗,实现超声探头匹配层阻抗的快速评估。
搜索关键词: 一种 基于 透镜 回波 评估 超声 探头 匹配 阻抗 方法 系统
【主权项】:
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