[发明专利]一种电子显微镜全样品扫描快速对焦的方法在审

专利信息
申请号: 202010658504.8 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111855725A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 马丁·思巴斯帝安·卡贝尔;莉莲·苏娜;凯彭;图阮;优翰·伯特兰;张传杰;陈辉 申请(专利权)人: 兰波(苏州)智能科技有限公司
主分类号: G01N23/2251 分类号: G01N23/2251
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 林志豪
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种电子显微镜全样品扫描快速对焦的方法,包括:载入待扫描样品;设置若干参数;定义待扫描样品的样品中心位置和待扫描样品的半径值,以样品中心位置为圆心、半径值为半径形成圆;定义待扫描样品的扫描区域;在扫描区域内选择有限多个点,根据点的数量在圆内选择合适位置将圆均分,并确定若干点的位置;确定焦点位置并自动设置放大倍数,同时激发自动聚焦;根据焦点位置自动计算待扫描样品的平面信息并进行水平校正;根据参数以及电子显微镜自动设定的对比度和亮度,逐个扫描用户指定的所有扫描区域。本发明大幅提高了全样品扫描的效率,为实现全样品或部分区域的快扫提供了可行方案。
搜索关键词: 一种 电子显微镜 样品 扫描 快速 对焦 方法
【主权项】:
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