[发明专利]数控加工和检测的管控系统、方法及数控加工和检测系统在审

专利信息
申请号: 202010659235.7 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111857069A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 冯伟;汪智勇;杨金表;杨之乐;叶俊麟;刘旭才;刘春 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院;深圳市中科晟达互联智能科技有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 李庆波
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请提供一种数控加工和检测的管控系统、方法及数控加工和检测系统。该管控系统包括数控机床控制模块,包括检测单元和控制单元;检测单元包括使用时设置在机床上的检测探头和标定球,控制单元用于根据输入的第一检测程序驱动检测探头对标定球进行检测;根据输入的第一加工程序驱动机床对工件进行加工;及根据输入的第二检测程序驱动检测探头对加工后的工件进行在机检测;数据采集模块用于采集机床的参数信息数据和检测探头检测到的数据;数据存储模块用于存储数据采集模块采集到的数据;生产管控模块用于对数据存储模块存储的数据进行分析处理;其中,各个模块之间相互连接;该管控系统不仅能提高工作效率和检测精度,且能进行实时管控。
搜索关键词: 数控 加工 检测 系统 方法
【主权项】:
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