[发明专利]一种多通道并行测试校准方法有效
| 申请号： | 202010663314.5 | 申请日： | 2020-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN111786768B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 王燕;任成喜;张红兵 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | H04L7/00 | 分类号： | H04L7/00;G01R31/3167 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 高娇阳 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多通道并行测试校准方法，步骤包括信号分配和系统校准，所述信号分配包括信号分配及校准子卡选择高稳定度、低相噪恒温晶振作为时钟源，产生系统所需的100MHz参考时钟，经过高品质时钟驱动器分配输出；经分配而来的工作时钟，经过时钟驱动器至少输出20路送给测试模块；系统控制模块将控制命令与参考时钟同步后输出给信号分配子卡，由信号分配子卡驱动20路分别送给各测试模块；所述系统校准包括统控制板及背板校准；模块时钟、触发信号校准；模块通道校准。本发明可以实现数字模块1Gbps数据速率，±100ps的通道间同步精度，实现多通道、高速率和高同步数字测试激励信号的产生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通道 并行 测试 校准 方法 | ||
【主权项】：
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