[发明专利]基于光子复位技术的全光学超分辨显微装置在审
| 申请号： | 202010671973.3 | 申请日： | 2020-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN111879740A | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 王伟波;张宝元;吴必伟;谭久彬 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B21/16;G02B26/10;G02B27/58 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于光子复位技术的全光学超分辨显微装置，包括：照明系统、扫描系统、荧光激发收集系统，激发样品上的荧光信号；去扫描系统，样品反射的荧光信号通过同一光路返回后，出射扫描振镜的荧光光束与扫描系统入射扫描振镜的光束在同一直线上；再扫描系统，所述去扫描系统后的出射光束扩束，再一次导向扫描振镜，实现光子复位；成像系统，接收经再扫描处理后的光束，分别对样品的不同扫描位置成像。由于一个发射光子的真实位置是在激发焦点和探测点之间距离的一半处，本系统在去扫描和再扫描光路中设置二倍的光束扩束，利用光学方法将每一个检测到的光子重新复位到其相对应位置上，得到一个具有更高检测效率和分辨率的图像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光子 复位 技术 光学 分辨 显微 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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