[发明专利]GaN器件散热结构及制备方法在审

专利信息
申请号: 202010677942.9 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111564501A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 马飞;冯光建;程明芳 申请(专利权)人: 浙江集迈科微电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/40;H01L29/20;H01L23/367;H01L23/373
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 313100 浙江省湖州市长兴县经济技术开发*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种GaN器件散热结构及制备方法,所述GaN器件散热结构的制备方法包括如下步骤:1)提供衬底,在所述衬底上方形成外延层;2)在所述衬底上定义有源区和非有源区,并在所述有源区的所述外延层上方形成有源区结构;3)在所述有源区的所述外延层和所述有源区结构上方形成隔离层;4)去除所述非有源区上的所述外延层;5)在所述非有源区的衬底上形成散热结构。本发明通过在GaN器件的上表面形成连接衬底的金属热沉散热结构,使GaN器件通过上表面有效散热;利用金属散热结构所形成的场板还进一步提升了器件的耐压性能。
搜索关键词: gan 器件 散热 结构 制备 方法
【主权项】:
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