[发明专利]射频电子元件测试装置及应用其的测试设备在审
| 申请号： | 202010685619.6 | 申请日： | 2020-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN113945776A | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 李子玮 | 申请（专利权）人： | 鸿劲精密股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R29/10;G01R1/04;G01R1/18 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 李怀周 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种射频电子元件测试装置，包含电性测试器、天线测试器及接合机构，其接合机构设有承载器及防扰压件，承载器供装配防扰压件，且驱动防扰压件位移，防扰压件以防屏蔽材质制作，并具有低介电系数而可供无线信号通过，借以承载器承载防扰压件，使得防扰压件位于天线测试器与射频电子元件之间，不仅利用防扰压件对射频电子元件施以压接力，使射频电子元件确实接触电性测试器而执行测试作业，还供天线测试器与射频电子元件间传输的无线信号通过防扰压件而进行无线信号测试作业，进而提升测试品质。本发明还提供一种应用射频电子元件测试装置的测试设备，其包含：机台；供料装置；收料装置；射频电子元件测试装置；输送装置；中央控制装置。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 电子元件 测试 装置 应用 设备 | ||
【主权项】：
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