[发明专利]一种基于DSP的高效的DDR测试方法有效
| 申请号： | 202010697338.2 | 申请日： | 2020-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN111739577B | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 钟国波 | 申请（专利权）人： | 成都智明达电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 成都聚蓉众享知识产权代理有限公司 51291 | 代理人： | 张辉 |
| 地址： | 610031 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于DSP的高效的DDR测试方法，涉及DDR测试技术领域，包括处理器模块、内存控制器模块、内存模块和显示模块，内存控制器模块、内存模块和显示模块均与处理器模块电性连接，处理器模块操作内存控制器模块，通过EDMA访问DDR内存模块，实现DDR的高效测试。本发明的有益效果是：采用随机数测试和跳变数测试，并使用EDMA加速器写数据到DDR或者从DDR读数据，不使用常规读写指令直接读写DDR，DSP在1.25G主频时，DDR控制器在666M时钟时，实现最多每秒10G字节数量级的DDR数据burst读或写速度压力测试，每秒2G字节的数据判断速度，测试效率提升数倍或数十倍，DDR故障只需要数分钟或数十分钟就能复现，在包含处理器的板卡故障快速定位时，能很快定位DDR故障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 dsp 高效 ddr 测试 方法 | ||
【主权项】：
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