[发明专利]一种光学信息检测系统在审
申请号: | 202010697767.X | 申请日: | 2020-07-20 |
公开(公告)号: | CN111929695A | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 杨鹏;李文建;王兆民 | 申请(专利权)人: | 深圳奥比中光科技有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G06T7/73 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 叶思 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请适用于光学技术领域,提供了一种光学信息检测系统,包括投影组件、投影屏、第一成像模组、光学信息检测装置;投影组件用于将投影图案投射至投影屏;第一成像模组用于采集投射至投影屏的第一图像,光学信息检测装置,用于对第一图像进行特征提取得到第一特征信息;获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息,计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系;将第一图形信息映射至目标全场投影图案,得到目标全场投影图案对应的第二图形信息;根据第二图形信息,计算目标光学信息。采用上述系统对光学信息进行检测,在投影组件投影的散斑图案中,无论零级散斑图案是否具有全局唯一性,都可以准确的对光学信息进行检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 信息 检测 系统 | ||
【主权项】:
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