[发明专利]温度测试装置及温度测试方法在审
| 申请号： | 202010708349.6 | 申请日： | 2020-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN112415282A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 小林武史;丸尾友彦;名古康彦 | 申请（专利权）人： | 安立股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张晋逾 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种温度测试装置及温度测试方法，在OTA测试环境下测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性时，能够抑制由绝热框体引起的测定结果的劣化。温度测试装置具备：测试用天线(6)，与天线(110)之间发送或接收用于测定DUT(100)的发送特性或接收特性的无线信号；绝热框体(70)，包围包括静区(QZ)在内的空间区域(71)并由绝热材料构成；以及测定装置(20)，进行DUT(100)的发送特性或接收特性的测定，绝热框体(70)在从测试用天线(6)发送来的无线信号的电波入射到静区(QZ)之前穿过的区域，具有与入射到静区(QZ)的无线信号的电波的行进方向垂直的平板状部分(70a)。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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