[发明专利]一种EEPROM芯片传递式测试方法及系统在审
| 申请号： | 202010708698.8 | 申请日： | 2020-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN111984478A | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 王锐;俞博文 | 申请（专利权）人： | 江苏艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 32274 | 代理人： | 田沛沛;邱兴天 |
| 地址： | 212000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种EEPROM芯片传递式测试方法，单次并行测试n颗芯片，对第一个芯片进行数据源的先写后读，读出的数据由测试机写入下一颗芯片并读出，以此类推，数据总共进行n‑1次传递，然后将从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据进行对比。若对比结果一致，则所有n颗被测芯片功能均正常，此时只需对比一次，而现有技术的测试方法的对比次数与测试芯片的数量相同，需对比n次；若对比结果不一致，则将前n‑1颗被测芯片的数据与源数据对比n‑2次，找出所有不良品，现有测试过程中，对比不一致的概率很小。本发明还公开一种EEPROM芯片传递式测试系统。本发明缩短了测试机测试EPPROM读写功能的时间和数据对比的时间，测试效率大大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 eeprom 芯片 传递 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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