[发明专利]一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202010714963.3 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111624538A | 公开（公告）日： | 2020-09-04 |
| 发明（设计）人： | 魏占涛;游斌;姜帆;何志强;张平川;蓝江河;杨陆 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第九研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 绵阳市博图知识产权代理事务所(普通合伙) 51235 | 代理人： | 黎仲 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，属于微波元器件测试领域，其装置包括样品杆（1）、谐振器（2）、模拟信号发生器（3）、扫场电源（4）和示波器（5）；其中，所述样品杆（1）置于谐振器（2）中，所述谐振器（2）分别通过数据线与模拟信号发生器（3）和扫场电源（4）连接；所述扫场电源（4）通过数据线与示波器（5）连接，本发明还公开了采用上述装置进行铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试的方法；本发明可实现30秒内快速测试出样品的饱和磁化强度，测试准确性良好，能够满足批量化产品分选测试的需求，有利于提高测试及工作效率，具有很强的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 铁氧体 谐振子 饱和磁化强度 快速 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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