[发明专利]压装PBX炸药柱中NTO晶体品质表征方法有效

专利信息
申请号: 202010717122.8 申请日: 2020-07-23
公开(公告)号: CN111879749B 公开(公告)日: 2023-02-14
发明(设计)人: 贾林;蒋忠亮;杜姣姣;于思龙;王琼;张林军;刘文亮;陈智群 申请(专利权)人: 西安近代化学研究所
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N1/28;G01N1/04
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 李郑建
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了压装PBX炸药柱中NTO晶体品质表征方法。将NTO基PBX药柱密封在铝塑袋中,在60℃保温2小时,然后在5℃保温2小时,反复操作3~5次,室温下放置24小时后取出药柱。将药柱轴向浅切使其劈裂,多点小心取出自然断面上的NTO颗粒至少100颗,随机挑选10颗,分别用显微拉曼光谱法测量1104cm‑1处特征峰的半高峰宽,计算相对实验标准偏差RSD,与包覆前NTO晶体品质相比较,确定NTO晶体品质是否发生恶化。本方法表征超临界法制备的NTO造型粉压制药柱中NTO晶体品质,可指导压制出合格的PBX药柱。
搜索关键词: 压装 pbx 炸药 nto 晶体 品质 表征 方法
【主权项】:
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