[发明专利]一种PCIE信号测试治具及其数据通路选通测试系统在审
| 申请号： | 202010740239.8 | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN111917605A | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 刘银中;岳永恒;王向光 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王晓坤 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种数据通路选通测试系统，包括用于与待测PCIE插槽接插配合以引出其差分信号的金手指，与金手指信号连接、用于择一选择与差分信号中的各个DP数据通路导通的P型线路选通模块，与金手指信号连接、用于择一选择与差分信号中的各个DN数据通路导通的N型线路选通模块，同时与P型线路选通模块及N型线路选通模块信号连接、用于同步控制两者的选通线路的选通切换模块，以及与P型线路选通模块及N型线路选通模块的输出端相连、用于将差分信号分别输出至信号测试器的接头对。本发明能够方便、快速地完成对PCIE信号的所有数据通路的测试，简化测试操作步骤，降低信号接头的磨损。本发明还公开一种PCIE信号测试治具，其有益效果如上所述。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 信号 测试 及其 数据 通路 系统 | ||
【主权项】：
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