[发明专利]一种电容式双棱镜干涉实验测量装置在审
| 申请号： | 202010747498.3 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111707384A | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 段秀铭;易志军;张伦 | 申请（专利权）人： | 中国矿业大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02;G01B7/02;G01B7/14;G09B23/22 |
| 代理公司： | 苏州衡创知识产权代理事务所(普通合伙) 32329 | 代理人： | 王睿 |
| 地址： | 221000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电容式双棱镜干涉实验测量装置，包括激光器、第一凸透镜、位移处理显示系统、电容器、光电探测器、滑座、第二凸透镜、轨道和双棱镜；所述激光器、第一凸透镜、双棱镜、第二凸透镜和光电探测器五个光学元件依次排列在轨道上，并处于同一光轴线上；所述轨道上划分有刻度线；所述电容器中的一个电容极板与光电探测器连接，调节光电探测器时带动与其连接的电容极板一同位移，两个电容极板正对面积发生变化，引起电容量变化；所述位移处理显示系统与电容器连接，将电容量的变化转化为光电探测器的位移数值显示出来。本发明可以使得光路共轴调节直观可见，也使得测量干涉条纹间距更方便和准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 棱镜 干涉 实验 测量 装置 | ||
【主权项】：
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