[发明专利]一种光纤宏弯测试装置的使用方法在审

专利信息
申请号: 202010751245.3 申请日: 2020-07-30
公开(公告)号: CN111855145A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 廖度君;刘文早;贾龙;李应剑;向勇 申请(专利权)人: 成都中住光纤有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 万双艳
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种光纤宏弯测试装置的使用方法,光纤宏弯测试装置包括:用于控制光纤进行宏弯损耗测试的测试仪器、用于衔接测试仪器的输出端和光纤的引纤以及用于将引纤和光纤融合为一体的熔接机,使用方法包括:S1、熔接机将测试仪器输出端的引纤和光纤融合为一体;S2、测试仪器控制光纤进行打圈操作,并记录弯曲状态下的光纤的衰减情况和第一功率损耗值;S3、测试仪器控制打圈的光纤进行松开操作,并记录直线状态下的光纤的衰减情况和第二功率损耗值;S4、测试仪器计算第一功率损耗值和第二功率损耗值的差值。通过使用本发明所提供的光纤宏弯测试装置的使用方法,可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。
搜索关键词: 一种 光纤 测试 装置 使用方法
【主权项】:
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